Les sondes Access-EFM sont des sondes de silicium nettes pour les applications de mode de force électrique qui permettent une vue optique directe de la pointe AFM et conçue pour les applications qui nécessitent de voir la pointe lorsqu'elle engage la surface.
Ces sondes ont une fréquence moyenne et une constante de ressort qui les rendent parfaitement adaptées à la microscopie à force électrique.
Compatibilité:
Ces sondes sont compatibles avec SmartSpm, Combinaison, Xplora nano, Labram Nano, Omégascope et Trios Systèmes. Ils sont nanofabriqués en utilisant du silicium monocristallé hautement dopé avec une reproductibilité, une robustesse et une netteté inébranlables pour une imagerie à haute résolution cohérente.
Un ensemble de 10 conseils.
Les caractéristiques uniques de ces sondes comprennent:
Compatible pour AFM / RAMAN-PL colocalisé.
Compatible pour les mesures électriques.
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Spécification de la pointe
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ROC (NM)
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30
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Hauteur (μm)
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14-16
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Forme
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Pyramide triangulaire
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enrobage
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Pt-ir
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Spécification en porte-à-faux
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Matériel
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Si
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Forme
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Rectangulaire
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Revêtement côté réflexe
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Platine
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Paramètre
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Nominal
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Min
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Max
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k (n / m)
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2.7
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0.8
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8.9
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f (khz)
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60.0
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36.0
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98.0
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Longueur (µm)
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245.0
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225.0
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265.0
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Largeur (µm)
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52.0
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51.0
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53.0
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Épaisseur (µm)
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2.80
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1.80
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3.80
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Si vous souhaitez plus d'informations sur AFM et AFM Raman, veuillez visiter notre site Web surQu'est-ce que l'AFM / Raman co-localisé? - Horiba, Labram Nano - Horiba etXplora nano - horiba.
