Les sondes Access-FM-A sont des sondes de silicium tranchantes pour les applications de mode d'étalonnage de force qui permettent une vue optique directe de la pointe AFM et conçue pour les applications qui nécessitent de voir la pointe pendant qu'elle engage la surface.
Ces sondes ont une fréquence moyenne et une constante de ressort qui les rendent parfaitement adaptées à la microscopie de modulation de force.
Compatibilité:
Ces sondes sont compatibles avecSmartSpm, Combinaison, Xplora nano, Labram Nano, Omégascope etTrios Systèmes. Ils sont nanofabriqués en utilisant du silicium monocristallé hautement dopé avec une reproductibilité, une robustesse et une netteté inégalées pour des capacités d'imagerie à haute résolution cohérentes.
Un ensemble de 10 conseils.
Les caractéristiques uniques de ces sondes comprennent:
Compatible pour AFM / RAMAN-PL colocalisé.
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Spécification de la pointe
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ROC (NM)
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6
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Hauteur (μm)
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14-16
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Forme
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Triangulaire
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Spécification en porte-à-faux
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Matériel
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Si
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Forme
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Rectangulaire
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Revêtement côté réflexe
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Al
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Paramètre
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Nominal
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Min
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Max
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k (n / m)
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2.7
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0.8
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8.9
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f (khz)
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60.0
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36.0
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98.0
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Longueur (µm)
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245.0
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225.0
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265.0
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Largeur (µm)
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52.0
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51.0
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53.0
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Épaisseur (µm)
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2.80
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1.80
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3.80
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Si vous souhaitez plus d'informations sur AFM et AFM Raman, veuillez visiter notre site Web surQu'est-ce que l'AFM / Raman co-localisé? - Horiba, Labram Nano - Horiba etXplora nano - horiba.
