Les sondes Access-NC-GG sont des sondes de silicium Sharp pour des applications en mode à contact intermittent / sans contact qui permettent une vue optique directe de la pointe AFM et conçue pour les applications qui nécessitent de voir la pointe lorsqu'elle engage la surface.
Ces sondes sont des sondes enduites d'or avec une excellente conductivité et une stabilité chimique, conçues pour des études électriques sans contact comme EFM, KPFM, etc.
Compatibilité:
Ces sondes sont compatibles avecSmartSpm, Combinaison, Xplora nano, Labram Nano, Omégascope etTrios Systèmes. Ils sont nanofabriqués en utilisant du silicium monocristallé hautement dopé avec une reproductibilité, une robustesse et une netteté inébranlables pour une imagerie à haute résolution cohérente.
Un ensemble de 10 conseils.
Les caractéristiques uniques de ces sondes comprennent:
Compatible pour AFM / RAMAN-PL colocalisé.
Compatible pour les mesures électriques.
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Spécification de la pointe
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ROC (NM)
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30
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Hauteur (μm)
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14-16
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Forme
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Pyramide triangulaire
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enrobage
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Or
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Spécification en porte-à-faux
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Matériel
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Si
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Forme
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Rectangulaire
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Revêtement côté réflexe
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Or
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Paramètre
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Nominal
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Min
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Max
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k (n / m)
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93
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34
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243
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f (khz)
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320.0
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201.0
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508.0
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Longueur (µm)
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150.0
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130.0
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170.0
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Largeur (µm)
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54.0
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52.0
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56.0
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Épaisseur (µm)
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5.50
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4.50
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6.50
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Si vous souhaitez plus d'informations sur AFM et AFM Raman, veuillez visiter notre site Web surQu'est-ce que l'AFM / Raman co-localisé? - Horiba, Labram Nano - Horiba etXplora nano - horiba.
