Description
Analyse des contraintes automatisées intégrées du silicium microcristallin avec des rapports d'analyse optimisés
Compatibilité
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Conditions d'utilisation
- Application utilisable sur un seul PC.
- Peut être transféré sur un autre PC via HFR.
- Licence permanente.
- Mises à jour gratuites dans LabSpec6.
Si vous avez d'autres questions, veuillez nous contacter en utilisant notre formulaire Contactez-nous disponible ici:Contactez-nous.
Détails
La spectroscopie Raman est l'un des outils les plus importants pour étudier les propriétés de base des semi-conducteurs. Il est particulièrement efficace pour établir les caractéristiques des cellules photovoltaïques et des dispositifs microélectroniques.
La contrainte mécanique et la déformation peuvent être détectées en analysant le décalage spectral de la position de la bande. Permettre de quantifier les souches de traction et de compression.
Le Application de stress SI rejoint la suite logicielle LabSpec6 et fournit une analyse rapide et fiable en un seul clic!
Silicon Premier Ordre PEAK AMPLIDIDE / SILICON First Order Péx Position / Structure Stress Stress / GPA
• Identification et qualification automatique des contraintes SI: traction et compression
• Référence intégrée et correction automatisée des données à l'aide de l'échantillon REF pour des mesures de contrainte à très bas niveau
• Données à point unique et ensemble de données de cartographie importante
• Modèle de rapport d'analyse optimisé
Application téléchargeable uniquement.
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